Двухлучевой спектрофотометр SolidSpec-3700

Двухлучевой спектрофотометр SolidSpec-3700
Производитель: 
Shimadzu
Страна: 
Япония
Узнать цену Задать вопрос по данному товару

Высокая чувствительность

В обычных спектрофотометрах фотоэлектронный умножитель, используемый в качестве детектора для ультрафиолетовой и видимой области, и PbS детектор для измерений в ближнем ИК-диапазоне не могут обеспечить высокую чувствительность на границе ближнего ИК и видимого диапазонов. SolidSpec-3700 / 3700 DUV успешно решает данную проблему.

Это первый спектрофотометр для УФ-видимого и ближнего ИК-диапазона с тремя детекторами: ФЭУ + полупроводниковые на основе InGaAs и PbS. Полупроводниковые детекторы обеспечивает чрезвычайно высокую чувствительность на границе ближней ИК-области и видимого диапазона. Низкие значения шума при работе с малопрозрачными образцами делают данный спектрофотометр незаменимым. Эта особенность неоценима при исследовании плохо отражающих образцов, например, оптических волоконных материалов.

Измерения в вакуумном УФ

SolidSpec-3700 DUV работает в вакуумном УФ от 165 нм (от 175 нм с интегрирующей сферой) с очень низкими значениями рассеянного света. Оптический блок и кюветное отделение продуваются азотом с целью удаления кислорода, поглощающего в области ниже 190 нм. Спектральный диапазон для измерений с использованием интегрирующей сферы — от 175 нм до 2600 нм.

Дополнительный модуль для прямого измерения в ультрафиолете (Direct detection unit DUV) позволяет расширить данный диапазон от 165 до 3300 нм и проводить измерения без использования интегрирующей сферы.

Работа с большими образцами

Большое отделение для образцов (900мм x 700мм x 350мм) позволяет удобно разместить образцы максимальной величины 700мм х 560 мм х 40 мм. Вертикальное расположение оптического пучка позволяет проводить измерения образцов, расположенных горизонтально. Возможно измерение по всей поверхности образца площадью 310 х 310 мм2. Автоматическая система перемещения образца позволяет проводить измерения в предварительно заданной точке образца с одновременной продувкой азотом. Достаточное количество необходимых приставок, таких как приставка нарушенного полного внутреннего отражения (НПВО) и др. значительно расширяют области применения данного спектрофотометра. 


МодельДвухлучевой спектрофотометр SolidSpec-3700
Спектральный диапазон, нм SolidSpec-3700: стандартная модель 240 ~ 2600 нмс использованием приставки для прямого детектирования 190 ~ 3300 нм., SolidSpec-3700DUV: модель для измерения в глубоком УФ 175 ~ 2600 нмс использованием приставки для прямого детектирования 165 ~ 3300 нм
Спектральная ширина щели, нм 8 ступенчатая: 0,1; 0,2; 0,5; 1; 2; 3; 5; 8 нм в УФ/видимой области, 10 ступенчатая: 0,2; 0,5; 1; 2; 3; 5; 8; 12; 20; 32 нм в ближней ИК области
Монохроматор Двойной монохроматор с дифракционными решетками
Оптическая схема Двухлучевая
Разрешение, нм 0,1
Шаг по длине волны от 0,01 до 5
Скорость сканирования, нм/мин Максимально 3600 нм/ в минуту для ФЭУ и InGaAs-детектора, Максимально 1600 нм/ в минуту для PbS-детектора
Детектор УФ/видимая область: ФЭУ (типа R928 для SolidSpec-3700, R955 для SolidSpec-3700DUV) Ближняя ИК область: InGaAs фотодиод и охлаждаемый PbS
Точность отображения длины волны шаг 0,01 нм
Погрешность установки длины волны ± 0,2 нм в УФ / видимой области, ± 0,8 нм в ближней ИК области
Воспроизводимость длины волны, нм ± 0,08 нм в УФ/видимой области, ± 0,32 нм в ближней ИК области
Переключение ламп Автоматическое переключение (можно выбрать в интервале между 282 и 393 нм с шагом 0,1 нм)
Уровень рассеянного излучения < 0,00008% (220 нм, NaI), < 0,00005% (340 нм, NaNO2), < 0,0005% (1420 нм, H2O), < 0,005% (2365 нм, CHCl3)
Фотометрический диапазон –6 ~ 6 Abs
Фотометрическая точность ± 0,002 Abs (0,5 Abs) NIST 930D фильтр, ± 0,003 Abs (1,0 Abs) NIST 930D фильтр
Дрейф SolidSpec-3700, 0,0002 Abs/час (после 2 часов прогрева прибора, 500 нм, постоянная времени 1с) SolidSpec-3700DUV, 0,0003 Abs/час (после 2 часов прогрева прибора, 500 нм, постоянная времени 1с)
Уровень шума 0,0002 Abs или менее (500 нм), 0,00005 Abs или менее (1500 нм), щель 8 нм, пост. времени 1 с
Колебания базовой линии ± 0,003 Abs (от 240 до 350 нм), ± 0,002 Abs (от 350 до 1600 нм), ± 0,004 Abs (от 1600 до 2600 нм), ± 0,001 Abs (от 200 до 3000 нм) при использовании DDU
Источники света 50 Вт галогенная лампа (2000 часов работы), Дейтериевая лампа (1250 часов работы), Встроенное автоматическое позиционирование ламп
Окружающая температура, °C 15-35
Окружающая влажность От 35 до 80% (комн. температура 15 – 30°C), От 35 до 70% (комн. температура 30 – 35°C, без конденсации)
Размеры (ШхГхВ), мм 1000 x 800 x 1200
Размеры кюветного отделения (Ш х Г х В), мм 900 x 700 x 350 мм (Ш х Г х В), Максимальный размер образца 700 х 560 х 40
Вес, кг 170
Parle Parle
Electrolab Electrolab
NEWTRONIC NEWTRONIC
XPZ XPZ
SOLAR SOLAR
BEING BEING
Memmert Memmert
Wonsen Wonsen
BioTool BioTool
HUANYU HUANYU
Farmalabor Farmalabor
GVS GVS
AnD AnD
IKA IKA
Riva Riva
Iskra Pio Iskra Pio